Spot View亚微米级表面检测

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Spot View^®亚微米级表面检测

美国REMSPEC的Spot View^®产品获得了美国R&D 100 设计大奖。Spot View^®是一种灵敏度非常高的表面分析技术，检测限可以达到0.3 μg/cm²。Spot View^®包含配备斯特林制冷器的MCT检测器，整个系统处于完全密闭状态。Spot View^®配备有3米长的光纤电缆，从而可以在很多场所自如使用。操作软件系统完全符合美国药典 21 CFR Part 11要求。诸如制药行业的反应釜或者计算机的硬盘的表面分析，可以选用手持式的检测头，可以在不受清洗溶剂的干扰下，准确测试残留的APIs活性组分的含量。