Vasco Kin原位纳米粒度监测仪

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Vasco Kin原位纳米粒度监测仪

法国Cordouan Technologies公司Vasco Kin原位纳米粒度监测仪集成了稳定的光学单元、灵敏的APD检测器和灵活的非浸入式探头，结合专用的分析软件和数学模型，开发出性能卓越的、针对各类纳米体系中颗粒尺寸的原位监测系统。不但保持了传统DLS动态光散射仪器的高灵敏度（粒径范围0.5nm-10um）和宽适应性（样品浓度1ppm-40%，视样品而定），还开创性地采用了非接触远程式探头，将DLS技术带入原位过程监测的广泛应用场景，增加了创新的时间关联功能。

Vasco Kin原位纳米粒度监测仪的主要技术优势包括：

-流体动力学分析

-高速数据采集，实时数据处理

-集成化程度高，无运动部件，维护和使用成本低

-模块化设计，可更换探头，一机多能，一机多用

-时间切片，可选取监测曲线中的任意时间段进行粒径分析

-超低延时，无需频繁采样，原位监测纳米颗粒的变化过程

-测试灵活，可根据样品浓度及透光性调整工作距离和散射角

-操作简便，非浸入式探头，无需批量稀释，无需样品预处理

适用性好，配备背散射技术，原浓或深色的不透明样品同样适用。