专业源自专注专注成就未来
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在线纳米颗粒度测试系统：法国Cordouan Technologies公司Vasco Kin原位纳米粒度监测仪集成了稳定的光学单元、灵敏的APD检测器和灵活的非浸入式探头，结合专用的分析软件和数学模型，开发出性能卓越的、针对各类纳米体系中颗粒尺寸的原位监测系统。不但保持了传统DLS动态光散射仪器的高灵敏度（粒径范围10nm-10um）和宽适应性（样品浓度1ppm-40%，视样品而定），还开创性地采用了非接触远程式探头，将DLS技术带入原位过程监测的广泛应用场景，增加了创新的时间关联功能。