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在线纳米颗粒度测试系统

法国Cordouan Technologies公司Vasco Kin原位纳米粒度监测仪集成了稳定的光学单元、灵敏的APD检测器和灵活的非浸入式探头,结合专用的分析软件和数学模型,开发出性能卓越的、针对各类纳米体系中颗粒尺寸的原位监测系统。不但保持了传统DLS动态光散射仪器的高灵敏度(粒径范围0.5nm-10um)和宽适应性(样品浓度1ppm-40%,视样品而定),还开创性地采用了非接触远程式探头,将DLS技术带入原位过程监测的广泛应用场景,增加了创新的时间关联功能。

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